DIM-225系列双目数码测量仪采用创新理念，结合软件技术和电路技术，直接把液晶显示和测量仪科学的结合为一体， 具备了传统光学显微镜的景深大、视度高，立体感强、视野广， 视觉图象更清晰、真实的特点；同时还具备了数码电子对图象进行拍摄、存储、打印，让交流更方便的特点； 真实体现了传统光学和数字化的完美结合。
主要用途如下：
1、直角座标中测定长度，例如已基面距离，刻线宽度，键盘槽宽度，狭缝宽度等等。
2、转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板，量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3、用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。
精密电子、电子元件,精密五金配件,高等院校、科研院所等领域具有一定的运用空间。普及型的价格定位，高速、精确、便捷
测量工作台主要规格：
X－Y轴移动测量范围25mmX25mm 50mmX50mm
X-Y坐标数显分辨率：0.001mm
测量台刻度盘分度范围: 0℃-360℃
支持大容量SD/MMC存储卡；
回放图片，4X放大；
Av视频输出，同步显示；
多功能LED照明系统；
测量台最大载重：8.0Kg
物镜变倍范围：0.65X~4.5X
显微镜总放大倍数：16X~120X
测量精度: ±5uM
测量工作台直径: 120毫米
